近期，日本AND微量分析天平BM系列新產品發(fā)布！

BM系列超微量分析天平是一種高精度的微量分析天平，它可以測量最小顯示精度為1微克（μg）的樣品重量。它具有以下特點：日本進口，所有部件均由A&D精密打造。采用后置式長力臂電磁傳感器，內部分辨率為1/25,000,000。

內藏校準砝碼，僅需按一下校準專用鍵（CAL）即可自動完成。全天候自動自我校準系統(tǒng)（Automatic Self Calibration）。配置不容易受風影響的網格狀稱盤。

BM-22超微量分析天平操作性良好的稱量室空間，稱量臺雙環(huán)設計，無需兩層防風罩。標配無風靜電消除器，采用導電涂層的防風玻璃罩，輕松解決靜電影響。自動環(huán)境偵測，自動/手動調整三段FAST MID SLOW 反應速度。具有百分比（Pct）功能，適用于重量檢測或配方檢測。

高精度計數功能，自動計算零件單重，配合ACAL (自動精度提高)功能，自動提高計量的精確度。重量檢測功能（Comparator Function）.輸出結果以 HI OK LO 燈號表示，并可通過選配件實現(xiàn)紅綠燈和聲音報警輸出。具有使用量程的百分比顯示（Capacity Indicator）。

具有時間與日期輸入功能，配合打印機和電腦的輸入與打印。超大記憶體?？蓛Υ?span>200組稱重數據。

兩種通信方式 標配RS-232C和USB接口，天平可同時連接：“電腦與打印機”、“電腦和數據記錄器”、“電腦和外部顯示器”兩種不同輸出設備。

由于日本AND的BM-22電子天平具有如此高的精度和功能，它可以應用于以下場景：

元素分析/煙塵分析/環(huán)境測定/生化相關實驗/微量分析測量。這些場景需要對極微量的樣品進行準確和快速的稱重，并且要避免靜電和風力等干擾因素。

藥物制劑/化學合成/材料科學/納米技術等領域。這些領域需要對復雜的配方進行精確的控制，并且要求天平具有高度的穩(wěn)定性和可靠性。

質量控制/檢測/認證等領域。這些領域需要對產品的重量或比重進行嚴格的檢測，并且要求天平具有高度的靈敏度和反應速度。

元素分析測定：分析用鋁盤各10個，標配；微量試管管座標配。

PM2.5環(huán)境污染物測定：網格狀稱盤標配（用來測定粒子材料過濾器用計量稱盤）

移液器容量檢測：稱液器容量檢測套件選配

桌面防風罩：AD-1672A

外形尺寸：680(W) X 600(D) X970(H) mm，開口位：648(W) X270(H) mm

特點：
?  最小顯示精度1μg(BM-20/BM-22)：元素分析/煙塵分析/環(huán)境測定/生化相關實驗/微量分析測量

?  網格狀專用稱盤(BM-20/BM-22)：配置不容易受風影響的網格狀稱盤

?  橫向滑動門控操作：左手可控制右側門開啟，方便兩手同時完成門控與樣品放置動作
?  操作性良好的稱量室空間：稱量臺雙環(huán)設計，無需兩層防風罩，從而在確保高精度的同時提供了更大的稱量空間，滿足大樣 品的稱量要求。
?  兩種通信方式：標配RS-232C和USB接口，天平可同時連接：“電腦與打印機”、“電腦和數據記錄器”、“電腦和外部顯示器”兩種不同輸出設備。（另外還配備了外部開關接口）

?  標配Windows測量軟件

?  強大數據存儲功能
    可儲存達200組數據（100組帶時間日期的數據）或50組校準數據

?  內置自動校準砝碼，可一鍵校準

?  GLP/GMP/GCP/ISO格式輸出

?  百分比功能

?  大型高清晰白色背光LCD顯示

產品參數：